|
题名:
|
CMOS集成电路闩锁效应 / 温德通编著 , |
|
ISBN:
|
978-7-111-64587-0 价格： CNY99.00 |
|
语种:
|
chi |
|
载体形态:
|
16,230页 彩图 24cm |
|
出版发行:
|
出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2020.03 |
|
内容提要:
|
本书共分为十一章，主要内容包括：CMOS集成电路寄生双极型晶体管、闩锁效应的分析方法、闩锁效应的物理分析、闩锁效应的业界标准和测试方法等。 |
|
中图分类法:
|
TN432.07 版次： |
|
版次:
|
|
|
附注:
|