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题名:
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光学系统像质评价与检测 / 李林, 林家明著 , |
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ISBN:
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978-7-5682-8946-7 价格： CNY68.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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194页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 北京理工大学出版社 出版日期： 2020.08 |
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内容提要:
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本书分六章, 光学系统像质评价方法、Zemax光学设计软件应用、基本光学测量技术、测角技术、准直与自准直技术、干涉测量。内容包括: 光学系统的坐标系统、结构参数和特性参数 ; 几何像差的定义及其计算等。 |
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中图分类法:
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O43 版次： |
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版次:
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附注:
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“十三五”国家重点出版物出版规划项目 |