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题名:
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CMOS集成电路闩锁效应 [ 专著] CMOS ji cheng dian lu shuan suo xiao ying / 温德通编著 , |
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ISBN:
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978-7-111-64587-0 价格： CNY99.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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16,230页 彩图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2020.03 |
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内容提要:
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本书共分为十一章，主要内容包括：CMOS集成电路寄生双极型晶体管、闩锁效应的分析方法、闩锁效应的物理分析、闩锁效应的业界标准和测试方法等。 |
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主题词:
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CMOS电路 短路电流 |
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中图分类法:
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TN432.07 版次： 5 |
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主要责任者:
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温德通 wen de tong 编著 |